放射線照射による機器への影響

放射線はヒト以外にも影響を与えます。

学会によるガイドライン

JASTRO

植込み型心臓電気デバイス装着患者に対する放射線治療ガイドライン

AAPM

Report No. 203 – Management of Radiotherapy Patients with Implanted Cardiac Pacemakers and Defibrillators: A Report of the AAPM TG-203 (2019)

reference

Indik JH, Gimbel JR, Abe H, et al. 2017 HRS expert consensus statement on magnetic resonance imaging and radiation exposure in patients with cardiovascular implantable electronic devices. Heart Rhythm. 2017;14:e97-e153

Netherlands

Management of radiation oncology patients with a pacemaker or ICD: a new comprehensive practical guideline in The Netherlands. Dutch Society of Radiotherapy and Oncology (NVRO).

Interdisciplinary German guideline (DEGRO/DGK)

DEGRO/DGK guideline for radiotherapy in patients with cardiac implantable electronic devices.

FPDが放射線損傷に強いと考えられた例

X線FPDを用いたHIMAC患者位置決めシステムの開発

パルス状の放射線照射が影響を与えると考えられる場合

X線診断装置等と植込み型心臓ペースメーカ等の相互作用に係る「使用上の注意」の改訂指示等について
PMDAからの情報発信

ラジカル生成を介したもの

放射線施設で生成されるオゾンは安全ですか?

中性子による影響が疑われるもの

人工呼吸器

放射線治療器に係る使用上の注意の改訂について
放射線治療器に係る使用上の注意の改訂について
Class 2 Recall Ventilator Systems
Field safety notice

輸液ポンプ・シリンジポンプ

輸液ポンプ・シリンジポンプの安全対策への取組み
※輸液ポンプ等には、強い放射線による影響が及びます。
社団法人日本画像診断システム工業会(JIRA)のホームページの「安全管理情報」に「放射線治療機器をお使いのお客様へ」(下記アドレス)が掲載されていますので、ご覧ください。

電磁波による影響

電磁波の医療機器への影響

半導体損傷

PHITSコードのトカマク型核融合試験装置への適用

解説記事

放射線による機械への影響
半導体に対する三つの放射線影響 とその照射試験
半導体の耐性試験 -加速器によるシングルイベント耐性の実測評価

NPO放射線安全フォーラム

第51回放射線防護研究会 「様々な物質の放射線防護について考える」 2017.02.18
  1) 半導体デバイスの放射線影響 ‐ 原子力用の超耐放射線性半導体デバイス開発を目指して ‐
  2)ATLAS実験における半導体飛跡検出器の設計に関わる放射線防護対策

検討例

Management of radiation therapy patients with cardiac defibrillator or pacemaker.
宇宙線によるソフトエラー:社会的インパクトと評価技術
産学連携ソフトエラー研究グループ

IEC規格

IEC 60749-44:2016

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

TC62(医療電気機器関係)の通則IEC 60601-1

医用電気機器の放射線の影響に関して「不要又は過度の放射のハザードに関する保護」についての記載。ただ、人への放射線被ばくに関するもので、機器への影響に関する内容ではない。

TC/62/SC62C(放射線治療、核医学及び線量計及び関係)の規格

IEC 60749-44:2016

JEITA規格

電子デバイス部門 半導体<半導体信頼性>関係
半導体信頼性技術小委員会の活動紹介

JEDEC

TEST METHOD FOR BEAM ACCELERATED SOFT ERROR RATE

Status: ReaffirmedJanuary 2012 JESD89-3A Nov 2007

TEST METHOD FOR REAL-TIME SOFT ERROR RATE

Status: ReaffirmedJanuary 2012 JESD89-1A Oct 2007

Test Procedure for the Measurement of Terrestrial Cosmic Ray Induced Destructive Effects in Power Semiconductor Devices

JEP151 Dec 2015

ADDENDUM No. 9B to JESD8 – STUB SERIES TERMINATED LOGIC FOR 2.5 VOLTS (SSTL_2): Includes Errata and Corrected Page 7 as of October 18, 2002.

JESD8-9B May 2002

TEST METHOD FOR ALPHA SOURCE ACCELERATED SOFT ERROR RATE

JESD89-2A Oct 2007

厚生労働科学研究

令和元年度厚生労働科学研究費補助金(地域医療基盤開発推進研究事業)「新規及び既存の放射線診療に対応する放射線防護の基準策定のための研究」(19IA1004)(研究代表者:細野 眞)分担研究報告書「医療放射線防護の国内実態に関する研究」PDF(PDF 0.75 MB)
別紙1「粒子線治療施設での位置決め用X線CT装置の利用に関する検討- 2019年度に発出された通知のフォローアップとして -」PDF(PDF 0.87 MB)
記事作成日:2013/11/05 最終更新日: 2020/09/09